X-RAY测金机/测金仪
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X-RAY测金机/测金仪在经济上远远优于多元毛细透镜的Fischer专有X-射线光学设计使得能够在非常精细的结构上进行厚度测量和成分分析,可以胜任测量传统的镀层厚度测量仪器由于X-射线荧光强度不够而无法测量到的结构.具有强大功能的带WinFTM? V6 软件可以分析包含在金属镀层或合金镀层中多达24种独立元素的多镀层的厚度和成分。
X-RAY测金机/测金仪典型的应用范围如下:
单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
多24种镀层(使用WinFTM? V.6软件)。
分析多达4种(或24种-使用V.6软件)元素。
分析电镀溶液中的金属离子浓度。
期待您的来电,金东霖科技 吴小姐 手机: TEL: FAX: 公司网址:www.kinglinhk.com 地址:宝安中心区宏发中心大厦