TR518FETR518FEICT测试仪
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TR518FE 其主要特性在于测试 速度较传统 ICT 快一倍以上。 此外,更具有可程序化开短路学习模式设定,满足各种不同待测物之测试特性。对于高针点的产品或大批量之制程,无疑是一台抵两台的选择,无论在设备本身或治具投资上均可因此而大大降低成本。
计算机自动学习并自动产生,开 / 短路、 Pin Information 及 IC 保护二极管之测试程序。
可网络联机,并结合数据库管理及测试站监控程序。
Board View功能可实时显示不良组件、针点之位置,方便检修。
大型主机设计,高密度SwitchingBoard,可达3584测试点。
应用IC Clamping Diode技术,可辅助检测BGA开路空焊问题。