产品型号：

XLE-3

·产品介绍    XLE-3型大平台检测显微镜是专为IT行业大面积集成电路，晶体的质量检测而设计开发制造的。
    正置式，三目镜筒，比传统的显微镜更适合于观察。上部安装彩色摄像机连续彩色监视器可直接观察。可连接计算机打印、照片或连接数码相机，照相机直接拍照，还可以直接进行图像记录，并建立技术检测档案，存储，查询，可省去复杂烦琐的摄影，洗印等暗室工作，大大的提高了工作效率。
·产品特点 1、放大倍数：40倍至500倍；
2、超大型载物台，可作大范围的纵横方向快、慢速移动，扩大检测领域的使用范围。
3、可以与OVM-TM软件搭配使用。
·技术参数 　 1、机械筒长160mm。       2、物镜

放大倍数	数值孔径	工作距离	介质	使用范围	配置
4×	0.10	17.912	空气	明场	1
10×	0.25	6.544	空气	明场	1
PC20×	0.40	1.05	空气	明场	1
PC40×	0.65	0.736	空气	明场	1

3、目镜

放大倍数	焦距	视场直径	备注
10×	25	18	-
12.5×	25	14	选配

4、物镜：放大倍数 40倍至500倍。 5、载物台面积  400mm×300mm。纵向移动范围---254mm横向移动范围---254mm 6、调焦机构：同轴粗微调机构，调焦范围36mm.格值0.002mm。 7、光源：内藏式连续调光电源，钨卤素灯12V/50W。 8、物镜转换器  五孔式 (四孔式)。 9、目镜筒  三目镜  (双目镜)。 10、仪器功能，明场、偏光、摄影等。 11、仪器重量：17公斤。 12、仪器体积：长560mm，宽530mm，高400mm。