15JE数显型测量显微镜
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产品型号:
15JE

15JE数显型测量显微镜 一、 用途: 数显式测量显微镜是光学计量仪器之一,其测量工作台可沿X、Y向移动,并绕垂轴旋转,X、Y向的移动距离可从数显读数装置上读取,旋转角度通过度盘和游标读取,仪器结构简单,操作方便,适用范围极广,主要用途如下:
1. 直角坐标中测定长度,例如测定孔距,基面距离,刻线宽度,键槽宽度,狭缝宽度,内、外圆直径等等。
2. 转动度盘测定角度,例如对刻度盘、样板、量规、钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。
3. 用作观察显微镜,以比较法检查工作表面光洁度、鉴定冶金工业的矿石标本、检定印刷照相制版、检验纺织纤维等等。 规格
物    镜 目    镜 显微镜 放大倍数 工作距离(mm) 视场直径(mm)
放大倍数 焦距(mm) 放大倍数 焦距(mm)
2.5X/0.08 43.40 10X 25.00 25X 58.84 5.6
10X/0.25 17.13 100X 7.81 1.4
测量工作台读数装置主要规格 X轴移动测量范围           50 mm Y轴移动测量范围           13 mm 测微器分度值               0.001mm
测量台转动范围             不限 测量台刻度盘分度范围       0°〜360° 测量台刻度盘之分度值       1° 测量台刻度盘游标读数示值   6’ 测量 仪器示值误差:±(5+L/15)μm 仪器示值误差:包括测量误差与仪器系统误差 注:测量地点温度变化(20±3)℃ L-被测件长度(mm)   仪器主要尺寸 测量台与物镜间之距离     80mm 测量工作台直径              120mm 仪器外形尺寸      332×284×263.5mm