- 产品品牌:
- 半导体分立器件测试系统;
- 产品型号:
- BC3193
BC3193 半导体分立器件测试系统
系统用途
BC3193半导体分立器件测试系统是半导体参数测试的专用设备
, 用于半导体器件生产厂家进行圆片中测或封装成测,各类整机厂家、科研院所的质量检测部门进行入厂检验、可靠性分析测试
系统特点
◆
PC机为系统的主控机
◆
菜单式测试程序编辑软件操作简便
◆
预先连接测试自动识别NPN/PNP
◆ 0~±2000V程控高压源
◆ 高达±1000A程控高流源
(外接高流台可扩充到±1000A)
◆ 测试漏流小分辨率达6.1pA
◆ 四线开尔文连接保证加载测量的准确
◆ 通过
IEEE488接口连接校准数字表传递国家
计量标准对系统进行校验
◆ Prober接口、Handler接口可选(16Bin)
◆ 可为用户提供丰富的测试适配器
测试对象
二极管/稳压管/恒流二极管/整流桥/瞬态抑制管: BVR、
IR、
VF、
VZ、
RZ
三极管: BVCBO、
BVCEO、
BVCES、
BVCER、
BVEBO、
HFE、
ICBO、
ICBS、
ICEO、
ICES、
ICER、
IEBO、
VBEF、
VBCF、
VBESAT、
VCESAT
可控硅: BVGKO、
IAKF、
IAKR、
IGKO、
IGT、
IH、
IL、
VGT、
VON
场效应管: BVDSO、
BVDSS、
BVDSR、
BVDGO、
BVGDS、
BVGSO、
BVGSS、
GFS、
IDSO、
IDSS、
IDSR、
IG、
IGDO、
IGSO、
IGSS、
RDS(on)、
VDS(on)、
VGS、
VGS(th)、
VP
IGBT: BVCES、
BVCGR、
BVGES、
ICES、
IGES、
VCESAT、
VGETH、
VGS(off)
达林顿矩阵:ICEX、
IIN(ON)、
IIN(Off)、
VIN(on)、
IR、
VCESAT、
BVR、
HFE、
ICEO
单结晶体管:Iv、
Vv、
IP、
VP、
VEB1、
ETA、
RBB、
IEB1O、
IB2
光敏二、三极管:ID、
IL、
VOC、
ISC、
BV、
BVCE
光 耦(输出类型:二极管、三极管、可控硅、
MOSFET)
: CTR、
BVECO、
BVCBO、
BVCEO、
ICBO、
ICEO、
HFE、
VBESAT、
VCESAT、
IR、
IAKF、
IAKR (加时间测量选件
Tr、
Tf、
Toff、
Ton)
固态继电器:IFoff、
IFon、
IR、
Ioff、
Ion、
RON、
VF、
VR、
Von
硬件基本配置
主控计算机一台:
Windows操作系统、
PCI插槽
1个以上;
计算机
PCI接口板
(CPUINT)一块;系统接口板
(SYSINT)一块
(含
GPIB接口
);
数据采集板
(VM)一块;
40A/30V程控电流电压源
(VIS)二块;
±
2000V程控电压源
(HVS)一块;
电流
/电压转换板
(IVC)一块;
电源控制板
(PWC)一块;
测试台矩阵板
(STATION)一块;
自检模板
2个;
测试适配器
4个(二极管、
TO-92、
TO-3、
TO-220)