深高新CX-500插回损测试仪
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手 机:18666211907
产品品牌:
深高新SGX
产品型号:
CX-500

深高新CX-500插回损测试仪,价格优插回损测试仪,国内款平均月销百台以上的插回损测试仪   CX-500插回损测试仪是一款精密的光插入损耗和回波损耗检测仪表,可以进行宽动态范围及高的光插入损耗回波损耗测量。是用于光有源器件和光无源器件的插入损耗回波损耗测试及设备装配检查、生产质量检测的理想的测量工具, 且具有的性能价格比,是光纤通信系统研究、开发和生产,维护等部门必备的基本和理想测试仪器。   CX-500插回损测试仪采用了大动态范围和微弱信号检测等先进的信号处理和软件处理技术,它对光回波损耗可在-75~0dB的动态范围内进行测量,具有当前国际先进水平。     主要特点
*超强电路设计,对大动态范围和微弱信号检测分析处理 *回损测试动态范围达75dB *插损及光功率计测试动态范围大(-80dBm+3dBm) *功率计模块波长与光源模块的波长联动,明显减少操作步骤 *整机外观紧凑、美观、实用,指标稳定、可靠,操作简单
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插回损采用双液晶显示,有效减轻操作人员视觉疲劳
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独特的光源接头可拆卸便捷清洁设计并提供全面的功率计接口配置  服务对象: 无源器件生产厂商(跳线厂,适配器生产厂,分路器生产厂等); 有源器件生产厂商(光模块生产厂,光源生产厂等);
科研机构(有源无源器件的插损回损研究)
通讯运营商(如移动、联通等)及工程服务商   技术指标
仪表型号 CX-500
光回波损耗测试
工作波长 1310/1550nm
测试范围 0 ~ 75 dBm
校准波长 1310/1550nm
测试 0.25dB
输出稳定性 0.02dB/小时 ( @ 25℃)
接口类型 FC/APC
光插入损耗测试
校准波长 850/1300/1310/1550nm
测试范围 +3 ~ -80 dBm
测试 0.25dB
显示分辨率 对数:0.001dB;线性:0.001nw/μW/mW
测试模式 线形和非线性
处理功能 系统校准、系统调零、波长选择
接口类型 活动接口, FC/SC/ST/通用φ2.5mm/通用φ1.25mm等适配器
电源 AC 90-260V
工作温度 -5+55℃
外观尺寸 300X300X120mm
重量 3kg