晶片表面缺陷测试仪
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产品型号:
SD-300i

产品介绍: SD-300i用于测定单晶材料的表面缺陷,适用于科研、工业生产等需求。该仪器还是一台半自动高定向仪,实现了缺陷和定向双功能。 产品特点: ■     缺陷和定向双功能
■     配有射线窗口电磁光闸和可靠的射线防护罩,确保安全使用 ■     表格和曲线的形式显示,一目了然 ■     速度快,重复性好 ■     效率高,数据实时处理 技术参数: ■     测试时间:1-2分钟 ■     重复性:≤±5″。
■     测角为±15″ ■     小读数1″ 典型客户: 台湾及国内蓝宝石及半导体客户广泛应用。 详情欢迎来电咨询: 北京合能阳光新能源技术有限公司 北京市通州区工业开发区光华路16号 电话: -104   传真:-608 联系人:肖经理  QQ:454972757 E-mail: 公司网站:https://www.HenergySolar.com