聚亮CW2010-Z非接触式测量仪
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产品品牌:
聚亮
产品型号:
CW2010-Z
产品用途:
微距测量
测量范围:
35MM

CW2010—Z    Z轴非接触式测量仪   一、特点: 以裂像聚焦指示器为测量原理, 采用高光学聚焦点检测方式进行非接触高低差测量。不仅可以对准目标影像, 还能观察测量点的表面状态,对高度,深度,高低差等进行测量。本仪器的各种镜筒还具有明暗场,微分干涉,金相,偏光等多种观察功能。所以对极细微的间隙高低差,夹杂物、微米以下的突起、细微划痕、以及金相组织进行观察。   二、用途:适用于硅片、IC、LCD、TFT、PCB、MEMS激光加工、晶片测试、半导体材料、线束加工蚀刻、液晶电池盖、导线框架等产品的检查观察.也适用于经过磨抛、化学处理的工件表面的金相组织结构,几何形状进行显微观测。并且有三维的测量功能,其解析率达0.0005mm。因此是精密零件,集成电路,半导体芯片,光伏电池,光学材料等行业的必用仪器。   三、主要规格   1. 镜筒:铰链式三目头部  30°倾斜   270°旋转   2. 高眼点平场目镜: WF10X/22 3.  平场复消色差物镜:(可根据使用需求选择不同倍率的物镜)

f=200mm用全平场复消色差物镜/M Plan APO
物镜数据  
倍率 2X *5X *10X *20X 50X 100X
NA 0.055 0.14 0.28 0.42 0.55 0.55
W.D(mm) 34 34 33.5 20 13 13
焦点距离(mm) 100 40 20 10 4 2
分解率(µm) 5 2 1 0.7 0.5 0.5
焦深(µm) 91 14 3.58 1.6 0.9 0.9

注: 带*号的为标配物镜   4. 水平转换器:五孔转换器,可对每个转换口进行调焦和调中,以消除物镜和转换器的制造误差,保证测量。(本项已申请)   5. 落射式照明系统: 高亮度LED灯(5W)   6. 调焦结构:粗微动同轴调焦, 带锁紧和限位装置,  粗动升降范围30mm,微动格值,0.001mm*100格,数显解析值 0.0005mm。   7. 透射光源:LED光源,1W,亮度可调 8.        Z轴升降范围:38mm以内,手轮转动130mm  允许工件 130mm, 导轨3+L/1000 X轴移动范围:200mm  解析率:0.001mm  可解锁手动快进,  Y 轴移动范围:100mm  解析率:0.001mm  可解锁手动快进,      测量(3+L/100)um  (L: 被测长度,um)      落射光测量误差≤0.08%     9.Z轴采用裂像法原理进行观察测量,结合精密的Z轴导轨,可有效保证测量的准确度。 10.工作台尺寸: 360mm*250mm  玻璃板尺寸: 225mm *175mm  工作台承重: 30kg    11.仪器外型尺寸:380mm*550mm*830mm    12.净重:100kg  毛重:120kg