产品品牌：

ARCS

产品型号：

KIC-E

产品用途：

快速检测各种复杂、精密零件的轮廓，表面尺寸，角度与位置，特别是精密零部件的微观检测与质量控制，并可用于产品开发、二维抄数等领域。

 

适用于如下之行业：

Ⓞ半导体如光罩、Wafer，系统晶片，互补式金属氧化半导体影像感测器。

Ⓞ封装元件如TSOP、SOP、QFP、BGA等。

ⓄPCB产品如IC板，模组电路板，软性电路板等。

ⓄTFT液晶萤幕如背光板、LCM、BUL等。

Ⓞ电子产品如测试座，多层陶瓷基版，感测器，电感、电容、电子元件等。

Ⓞ橡塑胶如O型环，相机组件，连接器等。

Ⓞ冲压产品如导线架、马达铁芯、精密金属板金、钟表零件、弹簧等。

Ⓞ零件如精密铸模，刀具，机械零件等。

Ⓞ光学通讯零组件，陶瓷套圈，光感测器等。

Ⓞ、航天航空，高等院校，科研机构等。

 

产品特点：

Ø德国的先进技术及严谨工艺，与台湾的精密制造技术的完美结合。

Ø精密传动轴高精密花岗岩底座、高强度、耐腐蚀、稳定性好。

Ø镜头具同轴、同焦距技术，量测过程中可连续变换倍率，影像可保持清晰。

Ø底光和表面光采用连续可调的LED冷光源，避免造成被测物体的热变形。

Ø精密光学尺，分辨率为0.001mm。

Ø搭配SI-102影像量测软件、界面友好，易学易用、操作简便。

Ø整机保修十二个月。

产品编号	KIC-2010E	KIC-3020E	KIC-4530E
量测行程(X、Y、Z)	200x100x200mm	300x200x200mm	450x300x200mm
载物台尺寸	355x255mm	505x355mm	705x505mm
仪器外型尺寸(长x宽x高)	585x600x960mm	790x780x990mm	1070x1090x970mm
净重	150kg	215kg	385kg
工作台承重	20kg
操作方式	手动(可切换快速移动)
放大倍率	光学放大:0.7~4.5X    影像放大:17.5X~112.5X
量测软件	SI-102简易型量测软件
量测分辨率	1um
量测	(3+L/200)um
重复	2um
使用环境	温度:20±5℃
电脑配备	高性能主机+19寸萤幕
电源要求	1～，AC110V~230V ,50/60HZ