一米平面光栅摄谱仪801W

仪器用途

801W型平面光栅摄谱仪是在200nm-800nm波段范围内作发射光谱分析的仪器。广泛地应用于教学、地质、冶金、机械、石油化工等部门作光谱定量和定性分析

性能指标

工作波段：200nm-800nm

仪器焦距：f=1050mm

谱板尺寸：240*90mm

相对孔径：D/f=1:25

狭缝指标：变化范围 0.003-0.3mm ，手轮格值 0.001mm

外形尺寸（包括导轨）：1350*1230.420(mm)

主机重量：80kg

产品特点

·光学系统采用艾伯特垂直对称形式装置，慧差及象散可矫正到理想程度，在较长谱面范围内谱线清晰，结构均匀。

·仪器采用三透镜消色差照明方法，狭缝得到均匀照明，使同一条谱线黑度均匀。

·仪器缝前的哈特曼光栏及三阶，九阶减光板。

·使用控制箱控制谱过程。

·仪器配备直流电弧，交流电弧光源，以适应不同分析任务的需要。

·仪器配置工作台，安装和操作方便。