薄膜测厚仪
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        主要用途及特点: 本仪器适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)、读数直观,使用方便。执行GB/T6672-2001标准。 l                      技术参数: 测量范围:0-1㎜   分度值:0.001㎜    上测头曲率半径:15~50㎜ 测头对试样施加负荷:0.1~0.5N