SGW X-4A物光SGW X-4A显微熔点仪适用于测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。  
技术参数：
熔点测量范围：室温至320℃ 
测量重复性：±1℃ （在＜200℃ 时）
                       ±2℃（在20 .0℃ 一320℃ 时） 
温度显示小值：0.1℃
熔点观察方式 单目显微镜 
光学放大倍数 40× 
SGW X-4A显微熔点仪如果您对本产品价格、图片、参数、售后等有任何疑问欢迎致电咨询！