产品品牌：

Neaspec

产品型号：

s-SNOM

类型：

散射式扫描近场光学显微镜

仪器放大倍数：

10纳米级别

分辨率：

10纳米

适用范围：

纳米级别分析

装箱数量：

1

帮您揭示纳米世界的秘密   没有复杂的样品准备，NeaSNOM的无损检测适用于：   *极性晶体 *半导体纳米设备 *超材料和纳米天线 *纳米线和纳米颗粒 *聚合物和蛋白质   从可见光到太赫兹的宽光谱范围内，Nea SNOM可以对各类物质性质进行扫描，分辨率达到纳米级别，例如：   * 化学组成 * 晶体结构 * 机械压力/张力 * 辐射损伤 * 载流子浓度及迁移 * 电场分布 无论是描绘半导体纳米棒中载流子的分布、定量单晶体管内的掺杂浓度、探索聚合物混合物的形态还是纳米线 dark modes的可视化……                                    ……Nes SNOM都将是您的得力助手          特点：传统光学显微镜的解析度受限于光学绕射因素而无法达到纳米尺度。传统孔洞式扫描近场光学显微镜虽然可克服此限制，但是其解析度限于五十纳米以上，且其光信号随孔洞缩小而急速下降，无法进行高解析度的纳米检测。我们的s-SNOM拥有10纳米光学解析度的散射式扫描近场光学显微镜。         原理：利用原子力显微镜的探针针尖当散射源，来增强在针尖前端与样品间的局限电场。藉由外差干涉、探针调制及光路设计等技术，可同时于多波长下记录地貌、近场光场强度及相位影像。这项技术能够用以探测纳米材料的光学特性及因纳米结构所产生的电磁场变化，s-SNOM对于您在纳米科技的发展将能够作出重大贡献。