安捷伦 4287A射频LCR测试仪在1 MHz～3 GHz频率范围可以提供、可靠和快

速测量，以改进生产线上对电子元件进行测试的质量和生产率。与反射测量技术

不同，采用直流电压测量技术能在大的阻抗范围进行测量。

生产率高、质量可靠
安捷伦 4287A 适于在射频范围对电子元器件进行测试。4287A的测量速度非常快

。此外，在小测试电流(100mA)处优良的测试重复性还可以显著提高生产率，因

为所需的取平均过程非常短。

一般指标

工作温度/湿度：10～40℃/相对湿度15%～80% 预热时间：30分钟 电源要求：

90V～132V,或198V～264V，47Hz～66Hz，500VA(值) 尺寸：主机：426mm(宽

)×234mm(高)×446mm(长)

主要技术资料

4287A射频LCR 测试仪产品介绍，p/n 5968-5443E4287A技术指标，p/n 5968-

5758E LCR 测试仪，阻抗分析仪和测试夹具选购指南，p/n 5952-1430E

技术指标

测量参数：|Z|，|Y|，L，C, R，D, Q, X，G，B，θ 测量电路形式：串联和并

联 工作频率：1 MHz～3 GHz 频率分辨率：10 kHz 信号源特性： 振荡器电平：

5mVrms～0.25Vrms(输出端开路) 电平显示单位：V，I，dBm 连接器：APC-3.5

输出阻抗(额定值)：50Ω 触发：内部，外部，手动和GPIB 阻抗测量范围：200

mΩ～3 kΩ 基本测量：|Z|:1%；D:0.01 测量时间：10 ms 接口：GPIB，处

理器接口 显示器：8.4英寸彩色LCD显示器 储存：内置HDD/FDD，备用SRAM存储

器