GM8019 + GM83001双光源背反射回损仪
价格:电议
地区:
电 话:86 20 82575618
传 真:86 20 82575318

商品简介:

 

      GM8019 + GM/1550 nm 双光源背反射回损/差损仪是一款台式的,单一光源输出口的,屏幕直接显示测量结果的背反射,差损和直接光功率的测量仪器。它适用于光通讯元件,系统,特别是光纤缆线的连接插头的测量。系统可以内置任意两个固定波长的光源。可根据客户需要,选择单模或多模测量系统。

 

 






产品技术指标:

 

  

产品类型 

单模 

多模 

光纤直径

9/125 um

62.5 um

工作波长 

1310/1550 nm(1490, 1610 nm Optional)

850/1310 nm (1550 nm Optional)

背反射范围 

0 ~ -75 dB

0 ~ -40 dB

相对(背反射) 

± 0.4 dB

± 0.7 dB

探测器类型 

InGaAs

InGaAs

功率范围

+3 dBm ~ -80 dBm

+3 dBm ~ -60 dBm

功率

± 0.25 dB at -10 dBm

± 0.25 dB

相对功率

± 0.15 dB

± 0.15 dB

工作温度

0 ~ 40 °C

0 ~ 40 °C

通讯接口

RS232, USB

RS232, USB

尺寸

200 mmH, 105 mm W, 250 mm D

200 mmH, 105 mm W, 250 mm D

重量

4.5 kg

4.5 kg