供应便携式涂层测厚仪
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CMI200涂层测厚仪特点:

  • 测厚仪高、稳定性好
  • 强大的数据统计、处理功能
  • 232接口,可连接打印机或电脑
  • 可选配90度直角探头
  • 带有扫描测量模式
  • 测量范围宽
  • NIST的标准片

 

 
技术参数

小测量面积0~3000μm(F);0~2000μm(N)
误差±3%
分辨率0.1um
小曲率半径5mm(凸);25mm(凹)
小测量面积φ20mm
小基体厚度0.35mm
显示4LCD位数显
测量单位um-mils可选
校准方式精密两点校准
统计数据平均值、标准偏差S、读数个数9,999
值max、小值min
接口232串口
电源1节9V电池
仪器尺寸150x80x30mm
仪器重量260

牛津仪器(Oxford Instruments)于 1959 年创建于英国牛津,现已成为的科学仪器跨国集团公司,拥有分布于英国、美国、芬兰、丹麦和中国的十几个工厂以及遍及的分公司或办事处,其产品和服务已经延伸到了一百多个国家和地区。

   在四十多年的高速发展过程中,牛津仪器公司凭借自身的科研优势,以超前的技术、出色的管理和独树一帜的产品对推动的科学发展作出了巨大的贡献。

   牛津仪器工业分析部(Oxford Instruments Industrial Analysis)提供多系列分析工具满足各个行业严格的质量控制要求。凭借30多年的XRF技术经验,牛津仪器的分析系统可以实现各种材料(固体、液体、粉末、糊状物、油脂、薄膜等)中元素组成的快速、无损检测,同时也可实现样品表面涂镀层厚度或组成分析。

   X-MET手持式XRF分析仪和移动式直读光谱仪OES是对现场合金分类及PMI测试、ROHS指定中有害元素的检测、质量控制尤为重要的工具。我们的OES设备包括:ARC-MET、FOUNDRY-MASTER、 FOUNDRY-MASTER COMPACT、PMI-MASTER PRO、PMI-MASTER SORT、TEST MASTER。

   Lab-X、Twin-X、ED2000 及MDX1000各种XRF光谱仪应用于各种不同领域产品的日常分析,如石油产品的硫含量的分析、水泥中钙含量的分析。我们能提供多款性能卓越可靠的光谱仪供您选择以满足您的分析需求。

   对于各种不同薄膜的厚度测量要求,牛津仪器不但向您提供各类高性能的XRF测厚仪(X-Strata960/980),同时还有不同型号的便携式磁感/涡流测厚仪(CMI100/200/500/700)供您选择。

详细信息
主营产品或服务:(RoHS/合金/油品/土壤/矿物)XRF/OES元素分析仪;涂镀层测厚仪;主营行业:元素分析仪器 ROHS检测仪器 光谱仪、光度计 涂层检测仪
企业类型:外资企业经营模式:生产加工
注册资本:无需验资公司注册地:中国 上海
公司成立时间:2001 年法定代表人/负责人:张鹏
主要经营地点:中国
是否提供加工/定制服务?
工商注册信息:已通过证书及荣誉:

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