老化房/老化烧机实验室

用途：适用于计算机、终端机、电源供应器、电子交换机、等电子组件寿命测试。为早期发现不良品之移处，提高产品的可靠性、为控制成本和保护产品之有效手段。特点：内容积可任意放大缩小，随使用者环境需求而设计。

组合式库板，拆装方便，结构简单，特殊强制送风循环设计，可避免箱内的气流死角减少实验室的温度而对试验样品的影响，同时能做到高均匀度的要求。

宽敞明亮之大窗口，让使用者随时可观测到试验箱内的状况

特殊之进风，排风设计可以只测试产品之发热量而升温

被测产品之电源自动通断时序控制器及周边配套设备。

技术参数：

注：在环境温度+25摄氏度时，空载条件下以内箱离各扁1/6距离有效空间测得的数据。