低测力，应用于太阳能硅片等粗糙度的测量，硅片表面线痕的测试。
■ 大型 LCD 屏幕窗口,易于清晰读取。 
■ 使用触控式面板（具抗污性）,操作简易。 
■ 可将数据储存于记忆卡（选购品）。 
■ 任意长度设定机能。 
■ 仅按 PRINT 键即可藉由内藏式打印机打印出量测之结果（可选择不同之打印方式）。 
■ 内藏 充电电池,本体携带方便也可收置检出器。 
■ 拥有丰富的参数：自动校正机能、统计处理、合否判定机能、客户自行编辑设计机能判定机能 
型号 SJ-210 
平移范围 17.5mm （ 5" ） 
测量范围 350μm （ ±150μm ） [12000μinch （ ±6000μinch ） ] 
驱动 / 检测元件 探测仪 :178-390/178-395 
测头 : 金刚石 
测量力 :4mN/0.75mN 
探测方式 : 微感应 
评定轮廓 P , R 
估计参数 Ra,Ry,Rz,Rt,Rp,Rq,Sm,S,Pc,P3z,mr 
数字过滤 2CR-75%,2CR-75% PC,Gaussian-50% 
截至 λC 0.25,0.8,2.5mm 
波长 λS 2.5,8μm 
取样长度（ L ） 0.25,0.8,2.5mm 
显示 ：彩色 LCD 
打印机：外置 
数据输出 通过 RS232C 接口 /SPC 输出 
电源通过 AC 适配器 / 电池（可充电） 
尺寸 62×156.5×52mm 
重量 0.48kg