LED加载老化测试系统-LED检测设备-LE试验箱
价格:电议
地区:江西 南昌市
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  • 江西宝源通仪器新推出LED高溫測試系統PRO-LED系列,此系統採用IC BUTN-IN作法,烤箱內完全採用PCB和插座做為電流導通之介質,不採用易劣化之電線,且把高溫爐和控制室整合在一個機箱內,所以外部除了電源線外,看不到多餘之電線,整個系統在外觀上非常簡潔,並採用觸控螢幕做為人機界面,操作簡單易懂。

    PRO-LED系列為LED驅動電流0~200mA與PIN-TIA驅動電壓0~10V,可由人機界面設定,每個Channel驅動電流為200mA。而此系統的特色是LD系統共有24個測試盤,並分成四組,即每盤64顆LD,每組6盤,PIN-TIA系統也有24個測試盤,分成二組,即每盤64顆PIN-TIA,每組12盤,兩者皆可獨立由觸控螢幕上設定燒測電流值與電壓值。LD在燒測時,TO-Can內的PD可同以5~25V的電壓,提供逆偏BURN-IN與 PD之逆偏電壓,二個OVEN也可獨立設定測溫度,溫度範圍R.T.~150℃,燒測時間為0~9999.9小時,同時實際燒測時間也會示在觸控螢幕上,當燒測時間結束時,系統會自動OFF電流、電壓、溫度,即本系統具有定時功能。且LD的腳位由驅動電路板上的跳接适用产品:DIP、SMD、食人鱼
  • 测试量:4000EA,中文化接口操做简便,

整体性设计方便使用

  • 选配:Vf、If、b/t监控软

 

  • 温度范围: -40~+100
  • 湿度范围:10%~98%R.H