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光学影像测量仪
上架日期:2008-8-5  关注指数:672    是否推荐:推荐中  

EV系列光学影像测量仪,具功能强大,价格性能比的特点。


EV系列光学影像测量仪采用本公司开发的精密多段倍率,超低变形,远心光学设计的变焦镜头,配上本公司专为光学测量而设计的专用DSP1/2"CCD彩色影像系统,将被测工件的表面纹理清晰细致地显现,轮廓层次分明,无误地放大20-125倍作精密测量


EV系列光学影像测量仪以高的大理石作机身的支架,配上高工作台,X/Y/Z三轴均装有分辨率为0.001mm的的光学尺测量系统,X/Y/Z轴的量测高达(3+/200)um。


EV系列光学影像测量仪配备由本公司自行开发,功能强大,使用简单的全功能测量软件,测量结果可以图档DXF格式输出至各类通用的CAD软件,如AUTOCAD,MASTERCAM等等,方便用户使用于抄数应用,相反地,用户也可将DXF格式的图档输入至本公司的测量软件内,作直观测量比较。


EV系列光学影像测量仪配备本公司自行开发,使用简单的SPC统计分析软件,使用户可以轻松对其加工流程进行科学化分析,从而轻易地找出流程中的误差趋势,以及工序中存在的问题。所有测量结果均可输出至通用的办公软件,如EXCEL,WORD等格式,方便用户保存,编制质量检查,或作进一步的处理。

 
参数
型号EV-2515EV-3020EV-4030
 
量测行程(X/Y/Z)250X150X150mm300X200X200mm400X300X250mm
外形尺寸
(长宽高)
100X60X40cm120X72X160cm120X72X160cm
机身重量170kg280kg410kg
重复性2um
机台承重量30kg
操作方式手动
量测分辨率0.001mm
X/Y/Z轴
测量
(3+L/200)um
光源系统全电脑程控,USB控制四路上光源,直轴可调下光源
平台结构00级花岗石机台及立柱
精密测头
(选配)
英国Renishaw高接触式精密测头
镜头超低变形,多段分辨率远心光学设计镜头(Telecetric Lens)
放大倍率光学放大倍率0.7-4.5X,影像放大倍率20X-125X
标准电脑配置C4/2.4G/256M内存/40G硬盘 17"寸CRT显示器
影像系统Easson高解析度CCD影像头(1/2"SONY CCD Sensor)及支专用DSP