特点
• 用于对千分尺测量面的平行度和平面度
进行检测。

• 每组包括 4 种厚度。
• 带有配套的携带箱。

技术参数
平面度: 0.1μm
平行度: 0.2μm
直径: 30mm

借助于平行平晶产生的干涉条纹图案可对
测量表面的平行度进行检测
通过下述方法可确定所测量表面间的平行度：在测砧
上夹紧平行平晶，从心轴方向观察在测力作用下产生
的干涉条纹的数量。
当平行平晶约为1μm (0.32μm x 3=0.96μm) 时，从测砧边缘
观察的条纹数一定不会超过一。

性能参数
公制型
千分尺检测范围货号平行平晶种类
(平行平晶厚度)
0-25mm 157-903 12.00, 12.12, 12.25,
12.37mm
25-50mm 157-904 25.00, 25.12, 25.25,
25.37mm

英制型
千分尺检测范围货号平行平晶种类
(平行平晶厚度)
0-1" 157-901 .5000", .5062",
.5125", .5187"
1-2" 157-902 1.0000", 1.0062",
1.0125", 1.0187"