XPR-500C电脑型偏光熔点仪

一、仪器的主要用途和特点
    XPR-500型透射偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子...等常用的实验仪器。可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化。
 本系统广泛应用于高分子材料、聚合物材料等化工领域，适用于研究物体的结晶相态分析、共混相态分布、粒子分散性及尺寸测量、结晶动力学的过程记录分析、液晶分析、织态结构分析、熔解状态记录观察分析等总多研究方向。
    偏光显微熔点测定仪XPR-500系统汇集了光电、模式识别、精密加工、图象学、自动控制、模量学等总多研究领域的当前技术，多年研究开发的结果，在国内享有.本仪器的具有可扩展性，可以接计算机和数码相机。对图片进行保存、编辑和打印。

二、XPR-500C电脑型偏光熔点仪的主要技术指标

1.显微镜技术参数:

2.精密温度控制仪的用途：
    CK-300型精密温控加热台是专为材料学、生物化学、冶金学、有机化学、高分子及纳米材料学而研制。与光学或电子显微镜配合使用，在微观上观察其溶化、升华、结晶过程中的状态和各种变化。
   加热台由精密温度控制仪和载物恒温工作台二部分组成，二者由一5芯线缆插口连接，载物恒温工作台置于光学或电子显微镜载物台上。特别适用配合偏光显微镜构成偏光熔点测量系统。

三、熔点仪技术参数:
1)输入电源： 交流220V ±10%  45-60HZ             2)热台加热工作电源：直流  24V  1.5A
3)功耗：75W                                       4)温度范围：室温——400℃
5)热台外体温度：热体400℃;室温25℃时≤70℃    6)热体载物重量：200克
7)工作方式：连续                                   8)：测量：全范围≤±0.5%
9)系统波动度：±1℃                              10)升温速度：室温——100℃≤40秒
11)慢升温速度达400℃时间:  4小时               12)可设置升温速度范围：0.5——36秒/℃
13)即刻恒温响应时间：≤0.01秒

四、系统组成:     1、偏光显微镜XPR-500         2、电脑适配镜      

3、300万像素彩色数字摄像机          4、CK-300控温热台