上光15J系列测量显微镜
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测量显微镜15J

15J标准型               15JA带照明器                15JE数显型

用途:

测量显微镜是光学计量仪器之一,它结构简单,操作方便,适用范围极广,主要用途如下:

1.    直角坐标中测定长度,例如测定孔距,基面距离,刻线宽度,键槽宽度,狭缝宽度,通孔外圆直径等等。

2.    转动度盘测定角度,例如对刻度盘,样板、量规,钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。

3.    用作观察显微镜,以比较法检查工作表面光洁度,鉴定冶金工业的矿石标本。检定印刷照相制版,检验纺织纤维等等。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

                      15J                           15JE(数显分辨率:0.001㎜)

规格:

1.物、目镜和放大倍率(表)

  

显微镜

放大倍数

工作

距离

(mm)

视场

直径

(mm)

放大倍数/数值孔径

焦距(mm)

放大倍数

焦距(mm)

2.5×/ 0.08

43.40

10×

带分划板

25.00

25×

58.84

5.6

10×/ 0.25

17.13

100×

7.81

1.4

2.测量工作台读数装置主要规格

测量范围                 XY50×13mm

测微器分格值               0.01mm

测量台刻度盘分度范围       003600

测量台刻度盘游标读数示值   6

3.测量:

仪器示值误差±(5+L/15)μm

L——被测件长度(mm)

仪器示值误差:包括测量误差与仪器系统误差。

注:测量地点温度变化(200C±30C

仪器主要尺寸:

测量台与物镜之间距离     80mm

测量工作台直径               120mm

玻璃工作台直径               80mm

仪器包装规格                 262×220×325mm

仪器重量                    10.6