高低温冲击测试箱用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。 
      主要用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具。

是根据国家相关标准设计制造，广泛适用于航空、航天、、舰船、电工、电子及材料等行业的产品整机及零部件的高低温试验及高低温冲击试验。以便对试品的性能和品质作出评价。本设备具有以下几个基本特点：

A、试验系统结构设计先进合理，制造工艺规范，外观美观、大方,维护保养方便。

B、零部件的配套与组装匹配性好，主要功能元器件均采用具有国际先进水平的原装进口件，提高了产品的安全性和可靠性，能保证用户长时间、高频率的使用要求。

C、设备正常运行所需的附带条件已有配备，买方只需提供动力电力和满足要求的工作环境即可。

技术参数： 

规格型号         30(A-D) 49(A-D) 80(A-D) 150(A-D) 252(A-D) 480(A-D)
  高温槽温度范围   +60 ~200℃.
  低温槽温度范围   A：(-55～-10℃).    B：(-65～ -10℃).      D：(-80～ -10℃).
  实验箱冲击温度   高温 +60～150℃
                   低温 A：(-10～ -40℃)    B：(-10～ -55℃)      D：( -10～ -65℃)
  升温时间         60~200℃小于35分
  降温时间         A：+20～-55℃小于75分  B：+20～-65℃小于80分 D：+20～-75℃小于90分.
  冲击恢复时间     高温(150℃)冲击30分钟.
                   低温(-40℃or-55℃or-65℃)冲击30分钟.
  冲击恢复时间：   5分钟以内.
  风门开启时间     3秒以内
  试样重量         1.0Kg 2.5Kg 5Kg 8Kg 10Kg 15Kg  
  冷热冲击试验设备标准型号和尺寸(也可按客户要求生产)(单位:mm)：
型号EET-27L 内形尺寸:W×H×D 300×300×300   外形尺寸：1200×1660×1020
型号EET-50L 内形尺寸:W×H×D 360×350×400   外形尺寸：1650×1790×1440
型号EET-80L 内形尺寸:W×H×D 500×400×400   外形尺寸：1790×1850×1440
型号EET-108L内形尺寸:W×H×D 600×400×450   外形尺寸：1800×1800×1500
型号EET-150L内形尺寸:W×H×D 600×500×500   外形尺寸：1800×1890×1540
型号EET-250L内形尺寸:W×H×D 700×600×600   外形尺寸：1900×2050×1650
型号EET-408L内形尺寸:W×H×D 1000×650×750  外形尺寸：2000×2300×2600
型号EET-560L内形尺寸:W×H×D 1000×700×800  外形尺寸：2000×2400×2700

 内箱材质：       SUS 304#镜面不锈钢板.
 外箱材质：      特殊防锈处理之钢板喷塑或SUS 304#纹路处理之不锈钢.
 保温层：         PU发泡.
 底座           国标角铁+国标槽钢.
 标准配置：      测试孔(￠50x1只),试料架(2组) .
 功率(约Kw)     12 16 24 40 52 65
 重量(约㎏)     900 1
 电源：                    AC3￠5W380V50HZ.