惠州TA数显测高仪 测高仪 ta hi
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TESA Hite plus M自动型二维测高仪:应用范围广泛电子装置弯曲防护。可防护液体或灰尘颗粒侵入内置空气轴承tesa光电测量系统全新的符合人体工程学的控制面板控制面板设计直观,操作方便具备1D/2D几何测量功能具备“自学习”功能,可生成循环使用的测量程序统计数据处理多种可选附件于tesa其他型号测高仪相兼容每台测高仪带有SCS校准证书。

技术规格

TESA Hite plus M 400

TESA Hite plus M 400

订货号,不带打印机

00730045

00730046 

订货号,带打印机

00730057

00730058

量程 mm  

405

705

应用范围(使用测头座)

 560

 860

应用范围(使用测头座)

615 

915

应用范围(使用测头座S)

785 

  1085

允许误差  

 (2.5+3L)μm 

(2.5+3L)μm 

重复性:平面内(2S)

≤ 1μm 

≤1 μm 

 (2S)

≤2μm 

≤2 μm 

        

0.0001/0.001/ 0.01mm

0.0001/0.001/0.01mm

 重量 

27KG 

32KG 

数据输出 

RS-232

RS-232

防护等级

电子面板IP65,其余IP40

工作温度

20±0.5

20±0.5

操作温度

10-40

10-40

工作电源

 6V可充电源 

 6V可充电源

    





 

 

德国马尔CX1高度仪可实现测量高度尺寸,两孔,,面和台阶的距离;孔和轴的直径;及相互位置尺寸;并可兼顾垂直度测量;两维测量.