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XC 2高轮廓测量仪
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武汉顿杰测量仪器有限公司

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  • 入门级高轮廓测量仪
  • 快速高性价比的2D 轮廓测量系统为用途最广泛的测量系统.
   
MarSurf XC 2 -特点


测量和评定工件的几何空间参数和工具的相关修正功能为机械研究, 技术和产业的重要要求. 仿真测量设计,友好的用户控制界面 MarSurf XC 2 为的产品例子. 它不仅能满足不同的测量和评定标准要求 ,还能保证超高可靠性的测量结果.

  • 创建拟合直线和圆
  • 创建点, 中点, 自由点, 中心点, 和点
  • 评定 半径, 距离 , 角度, 坐标系和线性偏差
  • 进行名义轮廓和实际轮廓的对比
  • 公差监视
  • 相关元素, 如基于参考元素创建的元素能与参考元素的变化而自动变化参数
  • 可设置不同用户权限，实现系统的密码保护而避免不正确的修改或测量操作
  • 多年验证设计的优异校准程序, 如.包含几何形状校准, 测量力校准, 变形量校准, 等.
  • 高刚性、坚固的测头设计
  • 驱动单元运行非常平滑，具有超高的稳定性和精准度