膜厚测量仪ST4080-OSP
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产品品牌:
K-MAC科美仪器
产品型号:
ST4080-OSP 

  • 技术参数
  • 波长范围 420nm ~ 640nm
    厚度测量范围 350 ~ 3
    小光斑尺寸 1.35, 0.135
    目标面积 864X648 / 86.4X64.8
    物镜转动架 5X(spot size 20), 50X(spot size 0.2)
    测量层 1
    固定样台面积 270mm(L) X 240mm(D)
    Z轴再现性 ± 1
    自动Z装置 Z direction Head Movement
    Travel range: 50mm
    Max. velocity: 50mm/s
    特征
    Non-destructive OSP thickness measurement
    No sample preparation for fast and easy operation
    Available to detect OSP coating on Cu with rough surface conditions
    Auto-focusing function
    3D contours results

    • 主要特点
    • ST4080-OSP(有机可焊性保护膜)专用于测量PCB/PW板的铜铂表面的OSP厚度。作为使用分光反射法的非破坏性光学测量仪,它可提供平均厚度和详细的3D平面轮廓资料,使得实时检测无需任何的样品制备。
      由于ST4080-OSP具有测量很小面积与自动聚焦功能,适用于PCB基板表面的实模式。ST4080-OSP基于科美公司的厚度测量技术,而它在半导体,平板显示与其他电子材料行业方面的可靠性得到了证实。

      为什么要选择 ST4080-OSP?

      ST4080-OSP使用反射测量法提供PCB/PWB表面OSP涂层厚度的非接触和非破坏性实时测量。
      ST4080-OSP 无需样品制备,可确保快速和简便操作。
      ST4080-OSP测量的光斑尺寸可减小到0.135,这使得它可测量表面粗糙的铜的OSP涂层厚度.
      ST4080-OSP 与紫外可见分光计,受迫离子束方法,时序电化学还原分析还有其他的测量方法相比较,它基于更可靠的测量技术。
      ST4080-OSP 可获取420nm~640nm范围内的多波长光谱。
      ST4080-OSP可提供各点和它们的平均厚度的详细数据,这样可帮助人们更好地控制OSP质量。
      ST4080-OSP 通过3D表面形态学将测量程序优化。

    • 仪器介绍
    • 1996年以来,科美在半导体,平板显示器,电子物质,生命科学和化学分析上,研发和提供了独特的,先进的解决方案。科美,作为测量和分析技术市场上的领头和动力,以它突出的表现得到了世界范围的认可。