能够很好地解决数字信息处理中对数字信号的观察和测试.数字系统设计和调试中的一些特殊问题, 例如传输延迟,竞争冒险,毛刺干扰等.分析和验证信息处理的结果,查找程序编制和运行中的错误,测量和比较数字逻辑电路的状态.

输入特性

输入通道: 32个数据采样通道, 2个外部时钟通道

门限电压: 6个独立可调的门限电压,调节范围: -6V～+6V,分辨率: 0.1V 

输入阻抗:电阻＞100kΩ,电容＜8pf

输入范围: 500mVp-p～20Vp-p  

输入保护:输入电压±40V不会损坏

采样存储特性

时序采样:内部时钟,采样速率1Hz～100MHz（周期10ns～1s）,分辨率10ns

状态采样:外部时钟clk1,外部时钟clk2 , 采样速率1Hz～35MHz

时钟限定:外部时钟clk1, clk2逻辑“与”,外部时钟clk1, clk2逻辑“或”

采样相位:上升沿,下降沿    

采样目标:内部码型发生器,外部信号源

采样控制:单次采样,连续重复采样

存储深度: 260k样点/每通道

触发特性

启动条件: 32位启动位选择, 32位启动比较字

启动选择:选择开关: On/Off

触发条件: 32位触发位选择, 32位触发比较字

触发限定:选择开关:＞, ＝, ＜

事件计数: 1～999次

触发选择:选择开关: On/Off

存储延时: 1～260000个采样周期 

显示特性

屏幕显示: 5.7英寸彩色液晶显示屏,分辨率320×240点

显示格式: 8通道时序波形, 18行数据列表

波形滚动: 32个通道垂直滚动显示, 256k数据点水平滚动显示

列表滚动: 256k数据行垂直滚动显示

波形缩放:水平缩放倍数1～100,比例尺1ns/div～4s/div

光标特性

测量光标1:浮动光标,在显示窗口内任意浮动,不随波形或列表一起移动

测量光标2:粘贴光标,作为基准点粘贴在波形或列表上,并随之一起移动

光标测量:移动测量光标位置可动态显示其数据值及两光标的地址差和时间差

触发光标:符合触发条件的采样点

查找光标:符合查找条件的采样点

内部码型发生器

码型种类: 00～15通道为加1计数器, 16～29通道为移位脉冲, 30～31通道用于监测外部时钟clk1和clk2

码型速率:频率1Hz～50MHz（周期20ns～1s）   分辨率10ns

操作特性 全部按键操作, 旋钮连续调节

通用特性

电源条件:电压AC220V（1±10％） 频率50Hz（1±5％）功耗＜30VA

环境条件:温度0～40℃     湿度＜80％

机箱尺寸: 329×283×155 mm    重量3 kg

制造工艺:表面贴装工艺,大规模集成电路,可靠性高,使用寿命长

标准配置

逻辑分析仪主机1台

用户使用指南1本

3芯电源线1条

50线电缆和连接器2条

输入转接盒2个

测试钩40个

测试钩连线40条