介质损耗测试仪de使用方法
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TK3580B型变频介质损耗测试仪是一种先进的测量介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)的仪器,用于工频高压下,测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗,(tgδ)和电容容量(Cx)它淘汰了 QS 高压电桥,具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压、抗干扰能力强、测试时间(在国内同类产品中速度快)等特点。体积小、重量轻的第二代抗干扰介质损耗测试仪。
变频介质损耗测试仪主要技术指标
      1、环境温度:0 ~ 40℃(液晶屏应避免长时日照)        
      2、相对湿度:30% ~ 70%
      3、供电电源:电压:220V±10%、频率:50±1Hz
      4、外形尺寸:长×宽×高   500mm×300mm×400mm
      5、重量:    约18Kg          
      6、输出功率:0.6KVA
      7、显示分辩率:3位、4位(内部全是6位)
      8、测量范围及输出电压选择:
                 介质损耗(tgδ):±0.00~±999%
                 试品电容容量(Cx)和加载电压:
                 2.5KV档:≤300nF(300000pF)            3KV档:≤200nF(200000pF)
                 5KV档:≤76nF(76000pF)                7.5KV档:≤34nF(34000pF)
                 10KV档:≤20nF(20000pF)
      9、基本测量误差:
                 介质损耗(tgδ):1%±7个字(加载电流20uA~500mA)
                 介质损耗(tgδ):2%±9个字(加载电流5uA~20uA)
                 电容容量(Cx):1.5%±1.5pF


   

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