台湾紫外线强度计 TN-2340
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台湾紫外线强度计 TN-2340技术指标显示 ：13mm LCD，3 1/2数字，显示1999量程/解析度：2个量程Hi和Lo.Lo，1999uW/cm2×1 uW/cm2,Hi；19990uW/cm2×10 uW/cm2度：±(4%FS+2dgt) FS，满量程传感器结构：UV光电二极管及UV色彩校正滤镜取样率：约0.4秒过量程指示：显示“1” 产品说明特性高质量UV计.UVA,UVB测量
UV传感器频谱290nm — 390nm
Hi，Lo测试量程19990及1999 uW/cm2
表头探头分离设计便于各种环境使用 应用工业
焊接时监测蓝紫射线辐射
阳光辐射监测
UV杀菌
图形艺术
UV EPROM擦除
光刻曝光 应用实验室
风化研究
UV杀菌
病毒学
微生物遗传学
DNA研究
普通实验室用途
UV传感器频谱290nm — 390nm
Hi，Lo测试量程19990及1999 uW/cm2
表头探头分离设计便于各种环境使用 应用工业
焊接时监测蓝紫射线辐射
阳光辐射监测
UV杀菌
图形艺术
UV EPROM擦除
光刻曝光 应用实验室
风化研究
UV杀菌
病毒学
微生物遗传学
DNA研究
普通实验室用途