表面测量仪器与系统Marsurf M1
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表面测量仪器与系统Marsurf M1

                                                  

设备提供符合DIN EN ISO/AMSE/prEN 10049的大部分参数(Ra,Rz,Rmax,and RPc)和JIS日本标准参数(Rz,Ra).

Perthometer M1 提供许多的测量功能。自动功能科识别周期及非周期轮廓,不需要预测量即可按照国际标准自动设置滤波参数,避免人为因素导致错误的设置。

在便携式应用中,可通过仪器内置的打印机自动或按键打印测量结果,也可以通过串口与计算机连接使用。

测量范围可达150μm

标准:DIN/ISO/JIS

测量长度:1.75mm,5.6mm,17.5mm

截止波长:0.25mm/0.80mm/2.5mm

可选截止波长

取样长度可选1至5个

根据标准自动选择过滤参数和取样长度

根据DIN EN ISO 11562的相位矫正滤波器

参数更具DIN/ISO/SEP:Ra,Rz,Rmax,RPc和JIS:Ra,Rz

根据轮廓幅值自动显示轮廓比例

打印粗糙度形貌和测量

动态测针校准

锁定设置。防止数据被故意更改