光学结构

反射 :d/8;SCI (镜面光包含 )/SCE ( 镜面光不包含 ) 可切换 ;

d/8光学结构符合 ISO 和 DIN 标准 ;

d/0之光学结构也符合 CIE 和 ASTM 标准穿透 :d/0.

侦测器

硅光电二极管（ 40 对组件）

测量波长范围

360到 740nm 每间隔 10nm

度

反射率从 0 到 200% Resolution: 0.01%

光源

脉冲氙弧灯（× 4 ）

测量时间

大约 1.5 秒 .

测量间隔时间

4秒，当测量 SCI/SCE 时

UV光调整 / 过滤

瞬时数字化UV调整和 400nm&420nm 截断

穿透测量之样品

薄片 , 色板 , 或 液体 ( 装在容器中 ) 厚度不超过 50mm

再现性

光谱反射率 :标准偏差 ≦ 0.1%

色差值 :标准偏差Δ E*ab ≦ 0.02

(测量条件 : 执行校正后测量校正白板 , 测 30 次每次间隔 10 秒 )

机台交换性 (LAV)

平均Δ E*ab 0.15 基于 12 BCRA Series Ⅱ 色板测量值与标准机台比较 .

温度影响

光谱反射率 :≦± 0.10%/ ℃色差值 :Δ E*ab≦ 0.05/ ℃

通讯接口

RS-232C

电源

AC 120V/230V 50/60Hz

操作温度 / 湿度范围

13 to 33 ℃ ;低于 80% 相对湿度 (at 33 ℃ 无冷凝 )

储存温度 / 湿度范围

0 to 40 ℃ ;低于 80% 相对湿度 (at 33 ℃ 无冷凝 )

体积 (W × H × D)

244 × 208 × 378mm（ 9-5/8 × 8-3/16 × 14-7/8inch. ）

重量

12kg (26-7/16 lb.)

标准配置

校正白板 CM-A103; 目标罩 ( ψ 4mm)CM-A107; 目标罩 ( ψ 8mm)CM-A106 ；目标罩 ( ψ 25.4mm) CM-A105; 零点校正盒 CM-A104; 附件盒 CM-A109; 变压器 AC-A12; RS-232C 通讯线 CM-A52

防尘罩； Unit Driver 软盘