检测设备半导体老化试验机
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型号

SPEC-BX容积

温度范围

100℃~250℃

温度稳定度

±0.5℃

温度分布均匀度

±1%F.S.℃

升温时间

依箱体大小而定

内箱尺寸

依客户要求

外箱尺寸

依客户要求

箱门尺寸

单门式:W800×H1800双门式:W1600×H1800

结构材质

拆装组合步入库板:采钢板喷塑

保温材质

硬质发泡及玻璃棉

加热系统

不锈钢散热式加热器

保护装置

无熔丝开关,冷媒高压保护开关,超温保护开关,加热干烧,烟雾控制警报系统

电源

1PAC220V±10% 50/60HZ&3PAC380V±10% 50/60HZ

标准配件

玻璃视窗,操作室内灯

选购配件

电源供应器,测试台车

项目

IC TESTING SYSTEM

预烧机板

60pcs(250℃)

40pcs(250℃)

接线端

24pin/900pcs(250℃)

24pin/600pcs(250℃)

定电流范围

DC0.0~100.00A

测试定电流解析度

0.1/0.01/0.001mA三档(自动跳档)

测试电压

DC0.0~12.0V

测试电阻

1/0.1/0.01ohm三档(自动跳档)

扫描记录时间

0.05SEC/CHANNEL

量测度

≤±0.5%(0-1Kohm)

项目

Software

主要功能

可测量电流,电压,电阻值/每个CHANNEL可独立设定电流值/提供pre-check功能/1200个channel于60秒内扫描读取完成,自动判断故障点。