LTS-2000单颗LED和LED模组加速老化寿命试验系统，符合国际及国内对单颗LED和LED模组加速老化寿命试验各项参数的测量要求，满足用户测量需求。

◆温度测量范围:0℃~250℃
◆测量温度:±1℃
◆恒温范围：40℃~150℃
◆恒定电流输出可调
◆恒定电压输出可调
◆老练时间0~1000小时或无限
◆具备多工位同时加速老化和寿命分析功能
◆光度计V（λ）匹配:1级

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