产品详情大图
供应ANDeMMC测试老化座
价格：电议
地区：广东省 深圳市
电 话：0755-23036306

深圳市斯纳达科技有限公司

免费会员 营业执照未上传

>
全部产品 进入商铺
  • 兼容有球无球测试，IC限位框可更换，相比同类产品具有使用寿命长、通用性广（支持尺寸：14mmX18mm）；
  • 电压可调设计，同时具备过流保护功能,可以测试flash与主控芯片电流（加电流表可监测电流）；
  • 支持热拔插，同时支持通过SD接口、排针与相应设备连接测试；
  • 同时兼容：东芝、三星、海力士、Intel 、Sandisk(新帝) 等所有同样封装的 4BIT 、8BIT eMMC 闪存记忆体。 (只需相应 PIN 脚定义一样同时兼容 169-FBGA 153-FBGA ；
  • 弹片采用铍铜经高模具冲压成形，头形仿探针设计，后期加硬、加厚镀金层处理，从而保证产品稳定性及耐用性；
  • 采用通孔焊接结构保证接触良好，socket与PCBA采用定位孔结合方便更换；
  • 采用下压式结构,更加便于自动化测试，操作方便简单；