中国科学院技术物理所研制的IR-2双波段发射率测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。对特殊需要的用户，通过专用的控温加热装置，在常温至300℃温度范围加热样品，进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。此仪器以日本JAPAN SENSOR CORPORATION远红外检测仪为参考，误差±0.03。

仪器特点：

1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位高微机控温仪(能显示到1mk)，使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围，而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。

2．采用了独特的光学调制技术，使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。

3．在仪器设计中，考虑到样品漫反射引起的测量误差，除镜反射(MR)探测通道外，还增设了专门的漫反射(DR)补偿通道，从而确保了仪器的测量。

4．在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术，较好地实现了对微弱信号的探测，进一步提高了仪器性能。

5．本仪器操作简单、使用方便、测量快速。

6．可按需更换滤光片，在多个红外光谱波段内进行测试。

7．在测量过程中不损伤被测样品。

8．本仪器带RS-232串口及复位键RST。

主要技术指标 

1．测量波段：3～5um、8～14um、1～22um  

(若用户有特殊要求，可定制不同波段滤光片)

2．发射率测量范围：0.01～0.99

3．灵敏度NE△ε：0.001

4．示值误差：±0.02 (ε>0.50)

5．重复性：±0.01

6．样品温度：常温(特殊用户为常温～300℃)

7．样品尺寸：>Ф50

8．测量时间：3秒后按测量键E，即显示ε测量值。

9．显示方法：LED数字显示，末位0.001

10. 电   源：  交流220V   50HZ