X荧光光谱仪
价格:电议
地区:上海市
手 机:15221921613
该技术的主要特征为:利用低能X光激发待测元素,对Si、S、Al、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率:采用UHRD探测器,具有良好的能量线性和能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比;采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的一致性:利用解谱技术使谱峰分解,使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有好的分析;采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。

性能特点
  的水泥、钢铁、矿料等全元素分析,亦可用于镀层检测和RoHS检测。
  内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。
  针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
  电制冷UHRD探测器,摒弃液氮制冷。
  智能全元素分析软件,与仪器硬件相得益彰,且操作简单。

技术指标
  测量元素范围:从钠(Na)至铀(U)
  元素含量分析范围:1ppm—99.99%
  同时分析元素:24种元素同时分析
  功能范围:水泥、钢铁、矿料等全元素分析
  分析:0.05% (对含量96%以上元素)
  测量对象状态:粉末、固体、液体
  测量时间:60s—200s 
  能量分辨率为:(150±5)eV 
  管压:5KV—50KV
  管流:50uA—1000uA

标准配置
  电制冷UHRD探测器
  信噪比增强器
  光路增强系统
  内置高清晰摄像头
  可自动切换型准直器和滤光片
  精准的升降平台
  加强的金属元素感度分析器

应用领域
  测试矿石、高炉渣、生铁、烧结矿、球团矿、白云石、膨润土、石灰石、普硅等,还可以广泛应用于铜合金、锌合金、镁合金、钛合金、钴合金、不锈钢等金属样品的成分分析。

标准配置
  单样品腔。
  正比计数盒探测器。
  信号检测电子电路。
  高低压电源。
  X光管。

应用领域
黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。
金属镀层的厚度测量和电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。