高偏光熔点检测热台
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地区:上海市
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上海沪杏光学仪器有限公司的高偏光热台是专为材料学、生物化学、冶金学、有机化学、高分子材料学而研制。

本热台配合与偏光显微镜配合使用,在微观领域上观察材料的溶化、升华、结晶过程中的状态和各种变化。本仪器人性化设计,自动化程度高,操作简单,技术先进,性能,结构新颖可靠。高精密偏光热台由精密温度控制仪和载物加热恒温工作台二部分组成,二者由一根5芯线缆插口连接, 载物加热工作台置于偏光显微镜载物台上。

 

.仪器特点

1. 独特的实体无缝隙热体结构:导热快,温度均匀一致,热源无氧化,寿命长久,体积小,

功率大,能耗低,升温迅速,能耐受长时间高温连续不间断工作。

2.独特的热力学隔离设计:高、低温区有效隔离,高温载物台高达400℃时,其外体可安全

握持不烫手,且无需水冷!

3.环境自适应模糊逻辑控制模式:整定迅捷,极高,波动度微小,能适应恶劣环境,即使强阵风吹拂载物台,系统也能实现高有效控制。

    在任何情况下均可根据需要随时改变温度设定。

    时间温度曲线为一理想直线,调整升温速度时只改变其斜率。

  即刻恒温,在升温过程中的任意时刻按下此扭后,系统立即自动停止升温,并恒温在按

下此扭时的即刻温度上。

4.人性化设计:使用操作方便,直流低电压加热,安全,无辐射。

 

.主要技术参数:

1. 精密温度控制仪显示窗口由上下二排四组数字及文字组成;

上排:温度测量显示组;下排:温度设定显示组; 数显方式:整数显示

2恒温范围:室温——400℃,恒温:全范围≤ ±0.5℅,恒温系统波动度:±1℃

   在进行熔点测量时,进行间接测量,首先通过标准物质熔点校正得到修正值后,再进行材料测量。本仪器主要测量相对温度,仪器显示温度一般材料实际温度的相对值

3. 温度速度:可设置升温速度范围:0.5---36/℃

升温速度:室温---100℃≤40

慢升温速度达36/℃,预计达400℃时间为180分钟

即刻恒温响应时间:≤0.01

4. 热台尺寸:厚度12mm、大小Φ110m 高温区Φ30mm、通光孔Φ4mm

5.热台的外体与高温度采用三根陶瓷分开隔热;在中心温度400℃、室温25℃时热台外体

温度70℃,热台载物重量200

6. 热台传感器高的双传感器,连接热台与温控仪

7.输入电源:交流220V/ 50HZ

热台加热工作电源:直流:24V /1.5A、功耗:75W