岛津/KRATOS 高性能成象X射线光电子能谱仪 AXIS-ULTRA DLD型
价格:电议
地区:北京市
电 话:010-85252310
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技术参数:

●图像分辨率(边缘分辨率) 2μm左右
●XPS灵敏度 大面积 11,800kcps / 110μmΦ 1,800kcps
27μmΦ 100kcps / (Ag3d5/2、450W)
●小分析直径(收谱分析) <15μmΦ



主要特点:

采用新开发的双模式分析器,从数秒至数十秒的时间内得到数μm以下的高分辨元素象、化学状态象,是真正的成象XPS。并且,若在图像上以鼠标点击指定分析位置,则无需移动样品,便可进行小至15μm微小区域的多点谱分析。配备新一代DLD检测器,可以超快速分析,实现收谱、成象、快拍(Snap Shot)功能。