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偏振相关损耗测量仪PDL-101
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北京市
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北京高光科技有限公司
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产品简介:
本仪器利用了功率搜索技术(与TIA/EIA-455-198 相匹配),本公司的此仪器可以在很短的时间内测量装置的偏振相关损耗(PDL)、插入损耗(IL)、光功率和偏振度(DOP)。它的测量原理与利用扰偏监测输出功率变化的测量方法不同,利用了本公司搜索小值的方法。而且此仪器对高低的PDL和SOP都能有的输出。它覆盖了1260~1650nm范围内的波段。本仪器内设RS-232端口、USB 、和提供电脑控制的网络接口,是、快速测量无源器件、DWDM器件、生产、和实验室的理想仪器。
产品特性: 产品应用:
确定性的偏振扫描 PDL测量
快速测量 插入损耗测量
无需校准 DOP测量
高和可靠性 PDL/DOP监测
通过RS-232端口远程控制
品牌/商标
美国GENERALPHOTONICS
企业类型
贸易商
新旧程度
全新
原产地
美国
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