偏振相关损耗测量仪PDL-101
价格:电议
地区:北京市
电 话:010-58816816
传 真:010-58816819
产品简介:
本仪器利用了功率搜索技术(与TIA/EIA-455-198 相匹配),本公司的此仪器可以在很短的时间内测量装置的偏振相关损耗(PDL)、插入损耗(IL)、光功率和偏振度(DOP)。它的测量原理与利用扰偏监测输出功率变化的测量方法不同,利用了本公司搜索小值的方法。而且此仪器对高低的PDL和SOP都能有的输出。它覆盖了1260~1650nm范围内的波段。本仪器内设RS-232端口、USB 、和提供电脑控制的网络接口,是、快速测量无源器件、DWDM器件、生产、和实验室的理想仪器。

产品特性:                                    产品应用:
确定性的偏振扫描                                 PDL测量
快速测量                                                 插入损耗测量
无需校准                                                 DOP测量
高和可靠性                                     PDL/DOP监测
通过RS-232端口远程控制

   
品牌/商标

美国GENERALPHOTONICS

企业类型

贸易商

新旧程度

全新

原产地

美国