TDM-200石英膜厚仪
价格:电议
地区:河北省 石家庄
电 话:0311-83055815
TDM-200膜层监控仪适用于高频溅射、直流溅射、电阻蒸发、离子束、电子束等镀膜应用场合,在线测量膜层的厚度,可用于批量生产,也可用于薄膜材料研究。本仪器具有高速高测量系统,可提高镀膜的质量和可重复性,具有稳定、易于操作、配置灵活的特点。还提供了监测和控制功能,您可通过液晶显示屏连续获取沉积速率、厚度和晶片频率;并可通过计算机记录数据并实时描绘厚度曲线和速率曲线。     ▲ TDM-200型膜层控制仪采用全中文人机操作界面,方便您的编程和操作。     ▲  频率计算和显示分辨率达到0.1Hz,计算速率达到每秒四次,为您制备薄膜提供了有力支持。     ▲提供了RS-232接口,您可对镀膜过程进行遥控。并可通过计算机实时描绘厚度曲线和速率曲线。     ▲对于多层膜中的关键膜层,您可使用特定的挡板探头监测,大大提升产品成膜质量和。     ▲可配合多源镀膜系统,并为您提供了256种材料参数供使用。     ▲ 连续镀膜还设计了自动监控方式,简化您的操作。     ▲ 19英寸标准机箱,备有适配电缆,易于安装至现有的装置中。   规格
测量 频率计算    ±0.1Hz(在6.0MHz频率时) 频率显示    0.1Hz 测量速率          4Hz     显示 厚度显示        000000?~999999? 速率显示        000.0~999.9?/s 时间显示        00:00:00~23:59:59(时:分:秒)层数              01~99层图形显示        240x64LCD,低功耗LED背光  存储能力 层                99层材料库          256种材料参数  膜层参数 层               01~99 厚度            000000~999999 ? 材料            分子式(长10个字符)密度            00.00~99.99g/cm3 工具因子      00.00~99.99 Z因子          00.00~99.99 探头            A、B、C、D 探头挡板     “无”或 “有” 系统参数 挡板延迟      00:00~99:99(分:秒) 镀膜方式     “单层”、“多层” 控制方式     “手动”、“自动” 启动延迟      00:00~99:99(分:秒)   输出控制能力 源挡板         4个探头挡板      4个  监控能力 源               4个探头数量      4个 通信 通讯接口            标配RS-232串行口 Windows软件    随机附带  其它 供电要求       220V(±5%),50Hz,                    功率<30W 工作温度       0℃~50℃ 仪器尺寸       112 x 480x360(高x宽x                     深),可用于19’标准工业                    机架仪器重量       5.0Kg  
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全新