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球面光学元件显微检测仪Sphere-3000
价格：电议
地区：广东
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Sphere-3000球面光学元件显微检测仪
Sphere3000是一套全波长显微球面光学元件光谱分析仪，能快速准确地测量各类球面/非球面器件的相对/反射率。适用于凸透镜、凹透镜、镜片等的镀膜反射率测量。还可进行有干涉条纹的单层膜厚或折射率测量。
特点：
 

  • 显微测定微小领域的反射率  物镜对焦于被测物微小区域（φ60μm）
  • CIE颜色测定  X Y色度图，x, y, L, a, b, 饱和度，主波长等
  • 检测速度快  高性能探测器，能在几秒内实现重现性高的测定
  • 消除背面反射光 无需进行背面防反射处理即可快速准确地测定表面反射率

技术参数

 

型号Sphere-3000（I型）Sphere-3000（II型）Sphere-3000（III型）
检测范围380~800nm380~1000nm380~1100nm
波长分辨率1nm1nm1nm
相对检测误差﹤1%﹤1%﹤0.5%
测定方法与标准物比较测定
被测物再现性±0.1%以下
(2σ)（380nm~410nm） 
±0.05%以下
(2σ)(410nm~800nm)		±0.1%以下
(2σ)（380nm~410nm）
±0.05%以下
(2σ)(410nm~1000nm)		±0.1%以下
(2σ)（380nm~410nm）
±0.05%以下
(2σ)(410nm~1100nm)
单次测量时间﹤1s
0.3nm
被测物N.A.0.12(使用10×对物镜时)
0.24(使用20×对物镜时)
                                                                                
被测物尺寸直径>1mm
厚度>1mm(使用10×对物镜时)
厚度>0.5mm(使用20×对物镜时)
被测物
测定范围		约φ60μm(使用10×对物镜时)      约φ30μm(使用20×对物镜时)
设备重量约15kg（光源内置）
设备尺寸300(W)×550(D)×570(H)mm
使用环境水平且无振动的场所
温度：23±5℃；湿度：60％以下、无结露，
操作系统Windows XP, Windows Vista，Win7
软件分光反射率、物体颜色、单层膜厚（有干涉条纹）和镀膜折射率（有干涉条纹）测定