DDR2单面内存条测试治具的详细信息

产品特点及性能参数： ◆产品通用程度高，只要换IC限位框，即可测试所有内存IC（宽度≤12MM）；◆有球无球均可测试（只需更换上盖的IC压板）；◆采用手动翻盖式结构，操作方便；◆上盖的IC压板采用摆动式结构，下压平稳，保证IC的压力均匀，不移位；◆探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠，而不会损坏锡球；◆高的定位槽，保证IC定位，测试效率高；◆测试准确性高，大大减少误判率；◆采用进口双头针，探针可更换，维修方便，成本低；      ◆绝缘材料：Torlon、PEI、PEEK，限位框铝合金材料制作；◆测试频率可达1066M Hz；◆测试寿命长，有效测试10万次以上；◆内存条测试治具测试规格：DDR2X8性可测试8颗内存颗粒；◆可以定制单颗内存IC与服务器主控IC的测试治具◆可以提供相关的技术支持。 产品服务：※半年保修（人为损坏除外）。
※保修期外，维修，如果需换件，只收材料成本费。
※可以提供相关的技术支持。