优异的光学技术

精密元器件的非接触式测量要求高分辨率、高对比度成像、和结合一个精密的测量平台。

Kestrel采用英国工业显微镜有限公司的高能光学技术，为快捷和简易的测量，提供强化的表面清晰度。优异的光学透明度同时能同步地进行细致的视觉检测。

有所视频系统数码化光学信息。Kestrel与其区别之处，是运用一个没经过测量前处理的纯光学成像。元器部件必能准确地被测量。

 选配件和附属配件

表面光和底部光照明装置选配件能使光源调节适用于任何测量应用。表面光照明装置由2组半共轴射灯提供，可加装同轴光装置（光线透过物镜）的选配件，用于观察盲孔或深层形状。快速更换的放大倍率选配件是：x10倍、x20倍、x50倍（x20倍作为标配）。

轮廓		表面		轮廓和表面

Kestrel能被连接到外接附属配件，例如USB、数码或视频照相机。

 

精密测量平台

测量是在一个高性能的三层铝制板平台上进行，提供150毫米 x 100毫米的测量范围。平台是用万向架支承着，能确保临界平行定位，平台均已通过非线性误差修正（NLEC）方法进行出厂前的预装校准，以保证优良的，这校准可溯及NPL/NAMAS/NIST国际标准以符合ISO9000质量。结合1μm分辨力的测量译码器，这保证该系统5μm的可重复性。

 

直观的微处理器

数据处理由 QC-200 多功能微处理器完成。QC-200适用于测量二维的形状，并且以操作简便为主的设计，采用了一个直观的界面装置及有实质的视觉显示。X和Y坐标测量是以数字和图解形式表示。结果可通过并行打印机端口被编写打印或通过串联端口连接输出到其他应用软件。

二维测量系统微处理器 - QC-200

Quadra-Chek 数字读数器及计量软件是二维几何元器件测量和检测的首要系统。QC-200数字读数器是Kestrel非接触式测量系统的标准界面装置，提供一个强劲的组合准许使用者能够沿着测量过程的每一步骤。的功能减少反复的测量，并简化复杂的工作步骤。

 

直观的使用者界面装置

一贯的、直观的界面装置保证操作员的准确性和减少培训时间。

 

测量戏法?

要进行测量，只需简单地将光标移至测量点并按击。无须操作员介入，QC-200辨别被测形状的类型。的测量戏法?功能，使用者无须改变对零部件的视线就能检测多个形状，提高效益、改进准确性和减少使用者的疲劳过度。

在不中断工作流程下，一个能听到的声音从内置扬声器发出，提醒使用者的操作，加快数据输入。

 

零部件编程

性编写一个测量次序，然后能按你所需重复地运行。在相同的位置和次序里，一个又一个地对每个零部件，测量等量的点数。

 

交叉及构建

通过选择曾测量的形状的记录，获取实质的交叉及构建结果，并以图解式显示。

 

几何公差 (optional)

QC-200 特有的图解式说明瞬时地显示关键零部件尺寸的合格 / 不合格测量细节。结果和重要的测量数据被展示在有序的综合LCD液晶显示屏上。

测量结果		交叉及构建		数据云技术

 

内容相关的帮助

QC-200利用图解计算、内容相关的帮助，缩小培训时间和开支，通过Quadra-Chek界面装置规则引导车间人员。

 

选配件

为工种使用适当的工具。选配的遥控键盘、脚踏开关和打印机帮助操作员更便于地采集精密的测量数据，同时精简作业流程。

 

语言种类

标准版本QC-200 能适用于英语、法语、德语、意大利语、葡萄牙语、西班牙语、瑞典语、捷克语、波兰语、土耳其语、汉语和日语等多国语言。
 

---

Kestrel测量显微镜 - 技术规范

请联系你所在地的英国工业显微镜有限公司的分机构，让我们了解你所需的详细要求。

Kestrel 200
放大倍率选配件	x10倍、x20倍*、x50倍
表面照明装置选配件	60瓦半共轴射灯* 150瓦6-点光环形灯 100瓦同轴光（光线透过物镜）
底部光照明装置	30瓦，底部光
数据处理器选配件	QC-200*, QC-300

* 标准选配

测量范围 X Y	150毫米 100毫米
平台玻璃负荷	10公斤
译码器分辨率	1.0μm
平台可重复性 X Y	0.005毫米 0.005毫米
测量误差	U952D = 7+(6.5L/1000)μm*