-
图文详情
-
产品属性
-
相关推荐
产品特点: 真空测试系统 特别设计的真空测试系统,全面保证了轻质元素(CL等)的检测质量,同时保留了原有测试系统对于其他元素的适应性。不会因测轻质元素而降低对其他元素的测试效果。 ? 全自动操作 自动化的操作系统、人性化的操作界面,通过鼠标即可完成全程操作(真空控制、原级滤光片、准直器、二次滤光片、样品的移动和样品盖的开关、工作曲线的选择全部实现自动化控制,程序会根据预先设定的测试条件自动进行所有的切换动作)。 ? 照射区控制系统 可调整的X光照射区域控制系统,实现了对测试区域的准确把握。从根本上保证测试数据的对应性。 ? 成熟的经典分析方法 集国家七·五、九·五科技攻关计划之科技成果,汇近二十五年分析测试应用经验的经典数学分析模型,为测试者提供可靠、精准、稳定的分析结果。 ? 强大的软件功能 高度智能化设计使操作更加简便,轻松成为测试。 可根据测试情况,自动设定各操作单元动作及相关技术参数。既保证了相关器件的寿命,又避免了人为操作误差。 全自动高背景拟合、多元回归等解谱方法的应用,使复杂材质的检测更加准确、便捷。 特别预置的谱图对比功能,很方便的实现历史谱图与被测谱图的对比,利于对数据变化材质的分析,进一步提高企业的风险应对水平。 简单、迅速的数据管理与输出格式,方便用户进行相关的数据管理与输出。 ? 开放性工作曲线 用户可很方便的建立不同材质材料的工作曲线,提高工作曲线与被测材料的对应性。建立本地化的工作曲线库,从而全面提升检测。 ? 严谨的硬件集成与结构设计 对可能影响整机度及稳定性的器件,全部采用高端进口原厂产品。 严谨的模块化设计与组件选择,确保了整机性能的稳定性与未来服务的操作简便性。 特别设计的原级、二次滤光系统,既保证了对有害元素的激发效率,同时全面降低了作为干扰因素的背景强度,充分提高峰背比,大幅度降低检出下限。 ? 全光路射线防护系统 业界的全光路三重防护系统(软件防护、硬件防护、迷宫式结构),根本上避免了故障、误操作等可能的辐射伤害。确保机器操作过程中辐射量低于环境本底值。(开盖测量除外。大样品进行开盖测量时的特别警示系统,进一步确保用户在该类物质测试过程中的安全顾虑)。 全光路防护的结构设计,减少了无射线区域的无必要防护,进一步确保了整机散热质量,全面提升系统的环境适应性及稳定性。 ? 全面的配套组件 购置附件后可进行六价铬定量测试。 配套多元素分析软件后配合真空装置测试范围可扩展到(AL~U),满足扩展的元素检测需求。 镀层分析软件,可进行镀层膜厚测试。 多元素分析及镀层分析软件为二选一标配,用户如需要另外一款软件需另行购置。 UX-510配置与参数探测器Amptek X-123 配置原厂MCA高压电源Spellman MNX50P50X光管丹东 专用X光管 Mo靶真空泵宁波爱科发 N051自动化操作系统华唯设计 实现:真空、原级滤光片、准直器、二次滤光片、样品及测试区域定位、样品盖开关、工作曲线选择全自动分析软件UX-510 V6.0 ; 多元素分析软件, 镀层膜厚分析软件(二选一)。技术参数仪器尺寸830 (W)*530(D)*500(H)mm装箱尺寸970(W)* 640(D)* 680(H)mm样品腔尺寸小样品腔:300(W)*300(D)*100(H)mm;真 空 腔:? 200*40(H) mm大样品腔:无限制,小于30公斤真空度测试真空度20Pa,极限真空0.1Pa重量净重:85kg工作环境15—30℃ 相对湿度≤85%(不结露)可分析元素范围Al-U极限检出限Cd/Cr/Hg/Br≤2 ppm ,Pb≤5ppm CL≤50ppm测量时间200-400s探测器分辨率149±5eV电源AC 220V ± 10%,50Hz