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JEOL日本电子 ROHS 检测仪 X射线荧光分析仪 元素分析仪
价格：电议
地区：广东省
电 话：020-87618696

捷欧迪托姆（上海）贸易有限公司

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能量色散形X射线荧光光谱仪 JSX-3100RII

注意: 并不是所有JEOL的产品都适用于任何国家。如果想了解适合于本国的有关JEOL产品的具体信息和详情，请与当地JEOL办事处或代理商联系，谢谢。

免液氮型能量色散形X射线荧光光谱仪

  • 用于RoHS符合性筛选
  • 高分辨率、免液氮型硅（锂）
    半导体检测器
  • 用于金属、岩石、土壤、
    食品及镀层厚度的常规X射线荧光分析
  • 快速高灵敏度分析
优越的性能、一整套软件包
RoHS管制物质的快速、高灵敏度分析操作简便（加载后点击）
使用对重元素具有高灵敏度的硅-锂半导体检测器，兼用对RoHS限制的化学物质的检测实行了优化的X射线过滤器，可实现对微量元素的高灵敏检测。
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单击专用分析菜单开始对镉（Cd）、铅（Pb）、汞（Hg）、Br（溴）、铬（Cr）的筛选，对形状及材质进行修正后显示筛选结果。
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各种形式的分析结果（归档软件）镍镀层软件（备选）
该软件提供用户可编程的模板，对RoHs符合性筛选结果进行管理与归档。
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该软件可自动校正镀层厚度及基体影响，从而提高镀层含铅的筛选度。
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JSX-3100RII规格
分析元素钠至铀
X射线源Rh靶，5-50kV，1mA，50W
过滤器4种类型（包括开放式）自动变换
准直仪直径1 mm、3 mm及 7 mm
检测器免液氮型硅（锂）半导体检测器
样品室尺寸300mm（直径）x 150 mm（高）
数据处理机Windows® XP，液晶显示器，彩色打印机
RoHS分析塑料中的5 种元素， 5种金属元素，锡镀层（备选）及镍镀层（备选）
一般分析FP法，薄膜FP法，校准曲线
备选CCD摄像头，16样品交换器，真空系统
主机尺寸/重量650（宽）x 810（深）x 460（高）；约90 kg
JSX-3100RII安装要求
电源单相AC100 V +/-10%，50/60 Hz，15 A，D类接地
工作环境室温：18-28°；湿度： 40-70% （无冷凝） 无腐蚀性气体、粉尘及有感的振动
液氮不需要
主机尺寸（mm）650（宽） x 810（深）x 540（高）
重量100 kg
品牌/商标

JEOL

企业类型

贸易商

新旧程度

全新

原产地

日本