E8是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪,其光路系统集合国内外几十年EDXRF技术;部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构;HeLeeX E8精密度高、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器。

仪器结构采用人体工程学设计,两侧按成人手臂长度设计,方便移动、搬运。

上盖倾斜6度角,寓意对客户的尊重。

表面采用汽车喷漆工艺,采用宝蓝、雅致白搭配;蓝色代表科技,白色代表圣洁,寓意对科学的敬仰。

样品盖镶嵌铅板屏蔽X射线

辐射标志警示

迷宫式结构,防止射线泄漏

安全连锁设计,测试过程中误打开样品盖时,电路0.1US快速切断X射线。

仪器经权威第三方检测,X射线剂量率完全符合GB18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》。

超短光路设计:提高无卤检测分辨率,提高样品分析效率;降低光管功率、延长仪器使用寿命。

模块化准直器,根据分析元素,配备不同材质准直器;从而降低准直器对分析元素的影响,提高元素分辨率。

空气动力学设计,加速光管冷却;有效降低仪器内部温度。

电路系统符合EMC、FCC测试标准

技术快拆样品盘,更换薄膜更方便

分析元素:Na-U

分析时间:60~400秒

配置RoHS检测分析模型,无卤分析模型

软件界面简洁、模块化设计、功能清晰、易操作

HeLeeX ED Workstation V3.0软件拥有数据一键备份,一键还原功能;保护用户数据安全。

HeLeeX ED Workstation V3.0根据不同基体样品,配备三种算法;增加样品测试精准度。

HeLeeX ED Workstation V3.0配备开放式分析模型功能,客户建立自己的工作模型。

应用领域:各种电子电器产品RoHS检测

卤素检测

镀层厚度分析

外形尺寸:380mmx510mmx365mm/长x宽x高

样品仓尺寸:360mm×330mm×50mm/长x宽x高

功率:330W

工作温度:15-30℃

相对湿度≤85%

X-123 Si-PIN探测器,采用原装进口高性能电致冷半导体探测器

晶体面积:25mm2

分辨率:145eV

X射线管电压:0~50kV

电流:2.0mA

功率:50W

Be窗厚度:0.2mm

使用寿命大于2万小时

灯丝电流:0~2mA

功率:50W

纹波系数:0.1%

8小时稳定性:0.05%

摄像头:500万像素

光斑大小:Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2.0mm、Φ5.0mm、Φ7.0mm可选

多种滤光片、准直器组合,软件自动切换

进口高性能开关电源

进口低噪声、大风量风扇