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X射线断层扫描复合式三坐标测量机
价格：电议
地区：广东省 深圳市

北京丹青瑞华科技有限公司

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Tomo X射线断层扫描复合式三坐标测量机
Tomo测量机主要特点：
◆  将X射线断层扫描成像技术整合到三坐标测量系统，实现复杂部件高内外尺寸全面测量
◆  可选配第二个Z轴，配置其他传感器（光学、探  针、光纤、激光等）
◆ Werth公司技术复合式传感器技术，进一步保证 CT测量数据更准确
◆ 坚固的花岗岩基座，保证机器具有高稳定性
◆ 高精密机械轴承技术及线性导轨系统，确保实现  高的测量
◆ 无论从设计还是结构，测量机完全满足并超出X射线使用安全标准
◆ 基于Werth公司优异的图形处理及3D重构技术，测量速度更快 
◆  Werth公司技术的X射线传感器独立校准系统
◆  Werth公司技术的栅格断层扫描技术：
        精密测量微小部件
        扫描更大尺寸工件，提高分辨率
        扩展测量范围
◆  测量软件可快速3D重构，也可进行2D测量
◆  测量工件内部尺寸的同时，也可实现材质缺陷分析
◆  选用广泛应用的WinWerth软件 (德国国家计量院PTB长度标准) ，界面友好，操作简单
◆  可使用拟合Bestfit及公差拟合Tolerancefit软件进行轮廓匹配分析及三维CAD工件公差比对
◆  广泛应用于复杂尺寸测量，首件评估，逆向工程，质量控制等

应用领域:  模具行业、逆向工程、汽车行业、航空航天、精密机械加工、船舶等

技术参数：
 

型    号

TomoScope

TomoCheck

TomoScope

HV Compact

TomoScope HV

测量工件尺寸(直径)

90mm

90mm

350mm

350mm

测量高度

200mm

200mm

350mm

500mm

允许误差 (用CT传感器)

(4,5+L/75) μm

(1,5+L/500) μm

(4,5+L/75) μm

(4,5+L/75) μm

允许误差(E1:单轴)

(2,5+L/120) μm

(0,5+L/900)μm

(2,5+L/120) μm

(2,5+L/120) μm

          (E2:平面)

(2,9+L/100) μm

(0,7+L/600) μm

(2,9+L/100) μm

(2,9+L/100) μm

          (E3:空间)

(4,5+L/75) μm

(1,5+L/500) μm

(4,5+L/75) μm

(4,5+L/75) μm

X射线源

130kV(150,190kV可选)

130kV

225kV

225kV(450kV可选)

X射线探测器像素

1024x1024

1024x1024

1024x1024

2048x2048

X射线探测器尺寸

50x50mm

50x50mm

200x200mm

400x400mm

分辨率

0.1μm

0.1/0.01μm

0.1μm

0.1μm

定位速度

150mm/s

60mm/s

150mm/s

150mm/s

加速度

300mm/s2

250 mm/s2

350 mm/s2

350 mm/s2

工作台承重

2kg

10kg

40kg

40kg

电源

230V +/-10%

3x400V/N/PE

3x400V/N/PE

3x400V/N/PE

气压

7-10bar

7-10bar

7-10bar

7-10bar

仪器自重

3000kg

6000kg

8500kg

11000kg


1). 依据标准ISO 10360和VDI/VDE 2617，使用TP200, WFP测量或CT传感器选择同等及更高探针修正或光学传感器选用同等及更高探针修正
2). Temp: 20℃±2k, △=1K/h m≤2kg

 

我们可提供检测服务，有需求的请联系
品牌/商标

德国Werth

企业类型

制造商

新旧程度

全新

原产地

德国