Agilent4287A_LCR表HP4287A

详细说明:
主要特性与技术指标 频率
?1 MHz至3 GHz，100 kHz步进
测量范围
?宽阻抗测量范围：200 m ohm至3 k ohm
基本测量
?1%基本更多特性
?在低测试信号电平时优异的测量可重复性
?高速测量： 9 ms
描述
Agilent 4287A RF LCR表提供从1MHz至3GHz的、可靠和快速测量，以改进生产线中电子元件测试的

质量和吞吐率。Agilent 4287A使用的不是反射测量技术，而是直接电流、电压测量技术，能在宽阻抗范

围实现的测量。

Agilent4287A射频测试仪
　　Agilent4287A射频测试仪LCR在1MHz～3GHz频率范围可以提供，可靠和快速测量，以改进生产线

上对电子元件进行测试的质量和生产率。与反向测量技术不同，采用直流电压测量技术能在大的阻抗范

围进行测量。

生产率高，质量可靠
　　4287A适于在射频范围对电子元器件进行测试。4287A的测量非常快。此外，在小测试电流(100μA)

优良的测试重复性还可以显著提高生产率，因为所需的取平均过程非常短。

系统组建简单
　　测试头电缆(1m或利用延伸电缆时为2m)很容易接到(元件固定装置的)被测件点测件接点附近，而不

会使误差有任何增大。内置比较器功能，高速GPIB处理器接口可用来简化与元件固定装置和PC机的组合

。增强的比较器功能可以使复杂的仓室适用于多频或阵列芯片测试。

便于使用
　　8.4英寸彩色显示器能清楚观察测量设置和结果。新研制的用户接口使操作过程更为方便且无差错。

内置统计分析功能可以提供监视测试质量和效率的过程。可选用的LAN接口有助于统一进行生产监控。此

外，若干APC-7 SMD测量夹具可以与4287所提供的夹具架和APC-3.5转APC-7适配器联用，从而无需制作专

用夹具。
技术指标
（全面的技术指标参见数据资料表）
测量参数：|Z|,|Y|,θ-z（度/弧度）θ-y（度/弧度），G,B,Ls,Lp,Cs,Cp,Rs,Rp,Q,D（可同时显示4种

测量参数）。
测试频率：1MHz～3GHz
频率分辨力：100KHz
测试信号：V:4.47mV～502mV(f≤1GHz）; 4.47mV～447mv(f>1GHz)
　　　　 I:0.0894mA～10mA(f≤1GHz);0.0894mA～8.94mA(f>1GHz)
电平监视功能：电压，电流
基本的Z：±1.0%
测量范围：200mΩ～3kΩ(1MHz下，≤10%)
测量时间：每点9ms（速）
Rdc测量：可用于触点检查
校准：开路/短路/负载/低损耗电容量
补偿：开路/短路,电长度
大容量存储功能：30MB固态大容量存储或2GB硬盘（选择选件）
接口：GPIB,:LAN(10Base-T/100Base-Tx自动选择)，处理器接口
显示：8.4英寸彩色LCD显示器

一般指标
电源要求：90V～132V,或198V～264V,47Hz～63Hz,350VAmax
工作温度/湿度:5℃～40℃,相对湿度20%～80%
尺寸：234mm高×425宽×445mm深（主机）
重量：16kg/0.3kg（典型值）（主机/测试头）