CH-1-S薄膜测厚仪/C H-1-SY压敏胶粘带测厚仪

一、 概述
   CH-1-S型薄膜测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。       

 C H-1-SY用于压敏胶粘带测厚仪价格：1250                                            

本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。
二、主要参数
1. 量程：0-1mm　分度值：0.001mm
2. 上测头曲率半径：15-50mm
3. 测头对试样施加负荷我：0.1-0.5N
4. 测量：100vm以内＜1vm
             100-250vm＜2vm
             250vm＜3vm

CH-1-S薄膜测厚仪的品牌：国产

CH-1-S薄膜测厚仪的型号:CH-1-S

CH-1-S薄膜测厚仪的产地:国产